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臺大工學院簡訊

學術成果

蔡劭璞、Peter J Konijnenberg、Ivan Gonzalez、Samuel Hartke、Thomas A Griffiths、Michael Herbig、Kaori Kawano-Miyata、Akira Taniyama、Naoyuki Sano、Stefan Zaefferer:Development of a new, fully automated system for electron backscatter diffraction (EBSD)-based large volume three-dimensional microstructure mapping using serial sectioning by mechanical polishing, and its application to the analysis of special boundaries in 316L stainless steel, Review of Scientific Instruments, Vol. 93, Issue 9, 093707 (Sep. 2022)
  • 發布單位:工學院

  三維材料分析技術(圖一)對於分析材料特徵以及研究材料科學十分重要。舉結晶材料中的二維缺陷‒晶界為例子:一般在傳統金相試片中,晶界通常呈現線段形貌。這麼一來三維空間當中晶界的曲面、面的晶體資訊、以及晶界之間的交互關係並沒有辦法得知,而這些晶界相關的變數會影響到材料的表現,例如疲勞、晶界腐蝕、熱電以及光電效應等。三維材料科學更可以廣泛應用於分析孔洞、析出、相分布等題材。目前存在的所有三維分析方法論中有兩個互相牽制的參數:解析度以及數據量。亦即,吾人可以利用聚焦離子束進行試片減薄,精準控制每一層的磨除厚度,然資訊量受限於切削試片的範圍;相對來說X射線的光源能進行三維成像,但空間解析度就會受挑戰。

 

  在馬克斯-普朗克研究院(後稱馬普所),我們團隊利用傳統研磨拋光法磨除一定試片層厚,搭配上電子背向散射圖譜定出晶體方位,建立出一套兼顧解析度以及資訊量的三維分析設備。這套設備欲同時解決若僅利用人力執行實驗,最終實驗者會疲勞、且數據再現性及擺放試片精度也會下降的問題。為了達此目標,馬普所團隊利用六軸機械手臂取代傳統人類手臂,搭配可撰寫程式控制之全自動研磨拋光機,並透過團隊自己開發的軟體將組成如圖二所呈現之設備。此套設備非商售,上述全部部件均為單一採購,再將其拼湊組裝起來。

 

  該設備於2021年成功運轉,並且成功產製出如圖三所示之結果(再結晶過之316L不鏽鋼試片),讓我們得以從各個方向切入三維數據觀測、並且加以分析如晶界等材料特徵。完整的技術開發過程、成果以及材料方面的分析結論最近投稿、成功獲得接受並發表於期刊‒科學儀器評論,煩請有興趣的讀者自行前往閱讀細節。(材料系蔡劭璞教授提供)

 

 

 

圖一、埃米至毫米等級所有三維材料科學方法論一覽,搭配該尺度之下典型用以觀察的材料特徵或缺陷種類。我們開發的設備及方法論標為EVALO tomography。

 

 

 

 

圖二、在馬普所建立的一套大範圍全自動三維材料科學分析設備,全名為Electron backscatter diffraction (EBSD)-based LArge VOlume 3D (ELAVO 3D)

 

 

 

 

圖三、利用EVALO 3D設備進行316L不鏽鋼的三維斷層觀測。